1. Optical inspection of microsystems
پدیدآورنده: / edited by Wolfgang Osten
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع: Quality control--Optical methods,Optical detectors--Industrial applications,Microelectronics.
رده :
TS156
.
2
.
O652
2007
2. Optical inspection of microsystems
پدیدآورنده: edited by Wolfgang Osten
کتابخانه: کتابخانه پژوهشگاه دانشهای بنیادی (تهران)
موضوع: ، Quality control -- Optical methods,Industrial applications ، Optical detectors,، Microelectronics
رده :
TS
156
.
2
.
O67
3. Optical inspection of microsystems
پدیدآورنده: edited by Wolfgang Osten
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع: Optical methods ، Quality control,Industrial applications ، Optical detectors,، Microelectronics
رده :
TS
156
.
2
.
O652
2007
4. Optical inspection of microsystems
پدیدآورنده:
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Quality control ; Optical methods ; Optical detectors ; Industrial applications ; Microelectronics ;
5. Optical inspection of microsystems
پدیدآورنده: edited by Wolfgang Osten
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع: Optical methods ، Quality control,Industrial applications ، Optical detectors,، Microelectronics
رده :
TS
156
.
2
.
O652
